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Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪

  • 简单描述
  • 1.德国菲尼克斯公司制造
    2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
    3.同屏显示统计数据
    4可存储前200测值
    5.可测铁基体上涂镀层
    6.基体上涂层,量程1500µm
    7.精度±1µm+1%读数.分辨率0.1µm,读数背景光
    8.有红外可接PC及打印机
  • 更新时间: 2017-03-24
  • 产品型号:
详细介绍

Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪

深圳市仪器仪表有限公司专业销售Surfix F测厚仪,:

Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪简介:

1.德国菲尼克斯公司制造

2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度

3.同屏显示统计数据

4.可存储前200测值

5.可测铁基体上涂镀层

6.基体上涂层,量程1500μm

7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光

8.有红外可接PC及打印机

Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪技术参数:

测量范围


0-1500µm,0 - 60mils


误差


±(1µm+1%读数)


分辨率


0.1µm小于读数2%


显示


背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示


基体zui小面积


5mmX5mm


基体zui小曲率


凸面:1.5mm凹面:5mm


基体zui小厚度


F型:0.2mm ,N型:50µm


校准


厂家校准,零校准,校准箔校准


数据统计(仅限统计型)


读数个数(zui多9999个),平均值,标准偏差,zui大值和zui小值


数据存储(仅限统计型)


zui多200个测量数值,可单独调出


数据值(仅限统计型)


上下限可调,声音报警


数据接口


红外通讯,IrDA标准


环境温度/表面温度


0-50/60(可选配150


电源


两节1.5伏五号碱性电池


仪器尺寸


137x66x23mm


符合标准


DINISOASTMBS


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